本发明公开了一种适用于低温高压材料X射线衍射测量的高压冷台装置,它主要包括耐高压仓、控制耐高压仓内温度与压力的温度控制系统和压力控制系统、及用于采集温度及压力等数据的数据采集系统、及用于安装固定的辅助配件。本装置拓展了现有X射线衍射测量仪的测量与应用范围,使X射线衍射测量可以对低温高压环境条件下的晶体材料进行测量。同时,本装置体积小,结构紧凑,使用时不需要对原有X射线衍射仪进行大量的改进,装置的耐压水平也显著高于国际其他国家所研制的类似实验装置。本装置充分考虑了设备的导热和水蒸气凝结对实际测量带来的影响,并采用大量的隔热材料在保证测量精度的同时保证了提高测量过程的连续性。
